Name: Veerbelaste testsonde dubbelzijdig voor ICT, FCT testopstellingen
Brand: SICHUAN WINNER SPECIAL ELECTRONIC MATERIALS CO., LTD.
Price: 999 USD
Availability: InStock

Huis > producten > Vroegproefsonden >

Veerbelaste testsonde dubbelzijdig voor ICT, FCT testopstellingen

veerbelaste testsonde dubbelzijdig

ICT FCT testopstelling sonde

veerproefsonde met garantie

Plaats van herkomst:

China

Merknaam:

WINNER

Certificering:

ISO9100

Contacteer ons

Verzoek om een Citaat

Veerbelaste testsonde dubbelzijdig voor ICT, FCT testopstellingen

Productdetails

Productnaam:

veerproefsonde

loop:

PB, goudkleurig

Onderste plunjer:

BeCu/SK4, verguld

TOP plunjer:

SK4(Be Cu)/Verguld

Lente:

SWPB(SUS)/Verguld

Beschikbaarheid:

Aangepaste maten beschikbaar

Coating:

Verguld met goud

Huidige beoordeling:

Neem contact op met Weerstand:

Maximaal 100 MOhm

Bandbreedte:

-0,84 dB @ 19,6 GHz

inductie:

1,47 nH

Captance:

1,77 pF

Volledige slag:

3,6 mm

Nominale slag:

1,0 mm

Veerkracht:

25gram@1,0mm

De mechanische levensduur is overschreden:

200k

Markeren:

veerbelaste testsonde dubbelzijdig

ICT FCT testopstelling sonde

veerproefsonde met garantie

Betaling & het Verschepen Termijnen

Min. bestelaantal

3000 pccs

Prijs

999

Verpakking Details

Neutrale verpakking of met OEM -logo

Levertijd

5-8 werkdagen

Betalingscondities

L/C,Western Union,T/T

Levering vermogen

100000 rollen per maand

Verwante producten

Dubbelzijdige, veerbelaste pin voor geautomatiseerde testapparatuur (ATE)

Krijg Beste Prijs

Precision Pogo Pin Probe met dubbel einde voor elektronische testen

Krijg Beste Prijs

High Precision Double Ended Pogo Pin Spring Loaded Test Probe voor ICT & FCT

Krijg Beste Prijs

China Leverancier Dubbelzijdige Pogo Pin Veerbelaste Probe voor PCB-testen | Maatwerk Beschikbaar

Krijg Beste Prijs

Contacteer ons

Contact nu

Productomschrijving

YOUFU UF-FT120BD118-001 Dual Head Spring Loaded Pogo Pins

Zeer nauwkeurige, veergeladen testpennen voor halfgeleiders, ontworpen voor betrouwbare prestaties in veeleisende testtoepassingen, met hoogrenderende BGA-testmogelijkheden voor halfgeleiders en SiC-wafers.

Belangrijkste productkenmerken

Zeer geleidende vergulding: met goud vergulde plunjer en vat zorgen voor een lage contactweerstand en stabiele signaaloverdracht
Meerdere tipstijlen: Beschikbaar in B-tip (60° kegel), U-tip, D-tip en volledig aangepaste geometrieën
Duurzame veerstructuur: Roestvrijstalen veer (SUS-materiaal) biedt een stabiele werkingsslag en betrouwbare contactkracht
Aangepaste productie: OEM/ODM geaccepteerd met snelle levering vanuit onze fabriek

Productafbeeldingen

Gedetailleerde componentillustratie

Aanpassingsopties

SICHUAN WINNER SPECIAL ELECTRONIC MATERIALS CO., LTD. biedt uitgebreide aanpassingen voor onze messing vat roestvrijstalen veertestprobes:

Aangepaste diameters om aan uw specifieke eisen te voldoen
Aangepaste platingdiktes voor optimale geleidbaarheid en duurzaamheid
Aangepaste mechanische specificaties afgestemd op uw toepassing

Alle producten bevatten documentatie over materiaaltraceerbaarheid en een analysecertificaat voor kwaliteitsborging. Neem contact met ons op om monsters of een offerte aan te vragen voor uw specifieke toepassingsvereisten.

Productieproces

Markeringen：

Veerbelaste testsonde dubbelzijdig voor ICT, FCT testopstellingen

veerbelaste testsonde dubbelzijdig

ICT FCT testopstelling sonde

veerproefsonde met garantie

veerbelaste testsonde dubbelzijdig

ICT FCT testopstelling sonde

veerproefsonde met garantie

Dubbelzijdige, veerbelaste pin voor geautomatiseerde testapparatuur (ATE)

Precision Pogo Pin Probe met dubbel einde voor elektronische testen

High Precision Double Ended Pogo Pin Spring Loaded Test Probe voor ICT & FCT

China Leverancier Dubbelzijdige Pogo Pin Veerbelaste Probe voor PCB-testen | Maatwerk Beschikbaar

Goudgeplatte wolfraamelektronica

0.01mm wolfraamdraad

elektronica van molybdeendraad