Name: Precision Pogo Pin Probe met dubbel einde voor elektronische testen
Brand: SICHUAN WINNER SPECIAL ELECTRONIC MATERIALS CO., LTD.
Price: 999 USD
Availability: InStock

Huis > producten > Vroegproefsonden >

Precision Pogo Pin Probe met dubbel einde voor elektronische testen

met twee-einde pogopin-sonde

voor de beproeving van de voorziening met een hoge precisie

elektronische pogopins voor testen

Plaats van herkomst:

China

Merknaam:

WINNER

Certificering:

ISO9100

Contacteer ons

Verzoek om een Citaat

Precision Pogo Pin Probe met dubbel einde voor elektronische testen

Productdetails

Productnaam:

veerproefsonde

loop:

PB, goudkleurig

Onderste plunjer:

BeCu/SK4, verguld

TOP plunjer:

SK4(Be Cu)/Verguld

Lente:

SWPB(SUS)/Verguld

Beschikbaarheid:

Aangepaste maten beschikbaar

Coating:

Verguld met goud

Huidige beoordeling:

Neem contact op met Weerstand:

Maximaal 100 MOhm

Bandbreedte:

-0,97 dB @ 19,6 GHz

inductie:

1,58nH

Captance:

1,98 pF

Volledige slag:

2,2 mm

Nominale slag:

1,6 mm

Veerkracht:

70 gram bij 0,6 mm

De mechanische levensduur is overschreden:

200k

Markeren:

met twee-einde pogopin-sonde

voor de beproeving van de voorziening met een hoge precisie

elektronische pogopins voor testen

Betaling & het Verschepen Termijnen

Min. bestelaantal

3000 pccs

Prijs

999

Verpakking Details

Neutrale verpakking of met OEM -logo

Levertijd

5-8 werkdagen

Betalingscondities

L/C,Western Union,T/T

Levering vermogen

100000 rollen per maand

Verwante producten

China Leverancier Dubbelzijdige Pogo Pin Veerbelaste Probe voor PCB-testen | Maatwerk Beschikbaar

Krijg Beste Prijs

China Supplier Double ended Pogo Pin Spring Loaded Probe UF-FT064BD816-001

Krijg Beste Prijs

Veerbelaste testsonde dubbelzijdig voor ICT, FCT testopstellingen

Krijg Beste Prijs

Double Ended Pogo Pin Spring Loaded Probe voor PCB-test en halfgeleiderinspectie

Krijg Beste Prijs

Contacteer ons

Contact nu

Productomschrijving

UFU UF-FTO85BD134-001 Pogo-pinnen met dubbele kop met veer

met een hoog-precisie veerbeladen halfgeleiderproefpen die zijn ontworpen voor betrouwbare prestaties in veeleisende testtoepassingen,met een hoog rendement BGA-testvermogen voor halfgeleiders en SiC-wafers.

Belangrijkste productkenmerken

Hooggeleidend goud: met goud bekleed zuiger en vat zorgen voor lage contactweerstand en stabiele signaaloverdracht
Meerdere tip stijlen: beschikbaar in B tip (60° kegel), U tip, D tip en volledig aangepaste geometrieën
Duurzame veerstructuur: veer van roestvrij staal (SUS-materiaal) zorgt voor een stabiele werkslag en een betrouwbare contactkracht
Custom Manufacturing: OEM/ODM aanvaard met snelle levering van onze fabriek

Foto's van producten